青島華能變壓器損耗測試儀

HN7063A有源變壓器容量及特性測試儀青島華能變壓器損耗測試儀價(jià)格

產(chǎn)品特點(diǎn)
   1．變壓器容量－特性測試儀能測量變壓器的容量和短路損耗及空載損耗，其測試結(jié)果符合GB1094．1-2003《電力變壓器》和GB/T6451《三相油浸式電力變壓器技術(shù)參數(shù)和要求》有關(guān)變壓器試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
   2． 0.1KV、0.4KV、1KV、3KV、6KV、6.3KV、10KV、10.5KV、11KV、35KV、60KV、63KV、66KV、110KV、220KV、500KV等等。
   5．可同屏顯示三相電壓、三相電流、三相功率、平電壓、平值電壓、平電流、總功率、測試結(jié)果和校正結(jié)果。X射線光譜分析儀的好壞常常是以X射線強(qiáng)度測量的理論統(tǒng)計(jì)誤差來表示的，BX系列波長色散X射線熒光儀的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，已足以保證待測樣品分析測量的精度，被分析樣品的制樣技術(shù)成為影響分析準(zhǔn)確度的至關(guān)重要的因素，在樣品制備方面所花的工夫?qū)?huì)反映在分析結(jié)果的質(zhì)量上。X射線熒光儀器分析誤差的來源主要有以下幾個(gè)方面：1.采樣誤差：非均質(zhì)材料樣品的代表性2.樣品的制備：制樣技術(shù)的穩(wěn)定性產(chǎn)生均勻樣品的技術(shù)3.不適當(dāng)?shù)臉?biāo)樣：待測樣品是否在標(biāo)樣的組成范圍內(nèi)標(biāo)樣元素測定值的準(zhǔn)確度標(biāo)樣與樣品的穩(wěn)定性4.儀器誤差：計(jì)數(shù)的統(tǒng)計(jì)誤差樣品的位置靈敏度和漂移重現(xiàn)性5.不適當(dāng)?shù)亩繑?shù)學(xué)模型：不正確的算法元素間的干擾效應(yīng)未經(jīng)校正顆粒效應(yīng)純物質(zhì)的熒光強(qiáng)度隨顆粒的減小而增大，在多元素體系中，已經(jīng)證明一些元素的強(qiáng)度與吸收和增應(yīng)有關(guān)，這些效應(yīng)可以引起某些元素的強(qiáng)度增加和另一些元素的強(qiáng)度減小。
  有源變壓器容量及特性測試儀技術(shù)參數(shù)
  1． 產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)《JJG124-93電流表、電壓表、功率表、電阻表檢定規(guī)程》
   2． 輸入特性
     有源部分： 電壓測量范圍：0~10V              
     電流測量范圍：0~10A
    無源部分： 電壓測量范圍：0~750V寬量限              
     電流測量范圍：0~100A內(nèi)部自動(dòng)切換量程
  3． 準(zhǔn)確度    
             電壓：±0.2%    
             電流：±0.5%      
             功率：±0.5%（CosΦ>0.1），±1.0%（0.02
             容量測量準(zhǔn)確度：±0.5%變壓器損耗測試儀價(jià)格作為一款芯片上的雷達(dá)系統(tǒng)，大多數(shù)工程師傾向于根據(jù)其原始用途按認(rèn)知對(duì)器件進(jìn)行分類。是將單芯片雷達(dá)視為另一種類型的傳感器。當(dāng)尋找一款能夠接近檢測物體、運(yùn)動(dòng)傳感，或進(jìn)行物理測量的器件時(shí)，毫米波雷達(dá)意外當(dāng)選。調(diào)頻連續(xù)波的線性調(diào)頻信號(hào)通常用于76~81GHz頻段雷達(dá)主要用于測量距離、方向(角度)和速度。用雷達(dá)測速，棒球運(yùn)動(dòng)場用測速槍(雷達(dá)槍)來測試棒球速度。芯片中的發(fā)射器(Tx)發(fā)射一個(gè)信號(hào)，然后該信號(hào)從遠(yuǎn)程對(duì)象反射回來并返回到位于發(fā)射端的接收器。其中半導(dǎo)體器件(包括：半導(dǎo)體分立器件、集成電路等)大多數(shù)是輻射敏感器件，輻射環(huán)境對(duì)這些器件的性能會(huì)產(chǎn)生不同程度的影響，甚至使其失效。針對(duì)輻射效應(yīng)，在器件的材料、電路設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、工藝制造及封裝等各個(gè)環(huán)節(jié)采取加固措施，使其具有一定的抗輻射性能。選擇抗輻射加固的器件應(yīng)用在空間輻射環(huán)境中，將能提高航天器的可靠性和使用壽命;應(yīng)用在戰(zhàn)略中，將能提高其效能和突防能力。空間輻射環(huán)境對(duì)電子器件主要產(chǎn)生電離輻射總劑量(TID)效應(yīng)和單粒子效應(yīng)(SEE);核輻射環(huán)境尤其是核環(huán)境，主要產(chǎn)生瞬時(shí)電離輻射總劑量效應(yīng)、中子輻射效應(yīng)和電磁脈沖損傷效應(yīng)。